天津组件检测仪器厂家

时间:2020年07月05日 来源:

EL(Electroluminescence,电致发光)是简单有效的检测隐裂的方法。其检测原理如下。

电池片的部分是半导体PN结,在没有其它激励(例如光照、电压、温度)的条件下,其内部处于一个动态平衡状态,电子和空穴的数量相对保持稳定。

如果施加电压,半导体中的内部电场将被削弱,N区的电子将会被推向P区,与P区的空穴复合(也可理解为P区的空穴被推向N区,与N区的电子复合),复合之后以光的形式辅射出去,即电致发光。


当被施加正向偏压之后,晶体硅电池就会发光,波长1100nm左右,属于红外波段,肉眼观测不到。因此,在进行EL测试时,需利用CCD相机辅助捕捉这些光子,然后通过计算机处理后以图像的形式显示出来。

给晶硅组件施加电压后,所激发出的电子和空穴复合的数量越多,其发射出的光子也就越多,所测得的EL图像也就越亮;如果有的区域EL图像比较暗,说明该处产生的电子和空穴数量较少,该处存在缺点;如果有的区域完全是暗的,该处没有发生电子和空穴的复合,也或者是所发光被其它障碍所遮挡,无法检测到信号。



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近年来,光伏产业发展迅猛,提高效率和降低成本成为整个行业的目标。在晶体Si太阳电池的薄片化发展过程中,出现了许多严重的问题,如碎片、电池片隐裂、表面污染、电极不良等,正是这些缺点限制了电池的光电转化效率和使用寿命。同时,由于没有完善的行业标准,Si片原材料质量也是参差不齐,一些缺点片的存在直接影响到组件乃至光伏系统的稳定性。因此,太阳能行业需要有快速有效和准确的定位检验方法来检验生产环节可能出现的问题。浙江光伏检测设备价格欧普泰PL、EL检测设备,电池片、电池串、组件检测准确率与速率均达到或超出国内外同类设备水平,领跑行业。

发光成像方法为太阳电池缺点检测提供了一种非常好的解决方案,这种检测技术使用方便,类似的二维化面检测。本文讨论的是光致发光技术在检测晶体Si太阳电池上的应用。光致发光(photoluminescence,PL)检测过程大致包括激光被样品吸收、能量传递、光发射及CCD成像四个阶段。通常利用激光作为激发光源,提供一定能量的光子,Si片中处于基态的电子在吸收这些光子后而进入激发态,处于激发态的电子属于亚稳态,在短时间内会回到基态,并发出以1150 nm的红外光为波峰的荧光。利用冷却的照相机镜头进行感光,将图像通过计算机显示出来。发光的强度与本位置的非平衡少数载流子的密度成正比,而缺点处会成为少数载流子的强复合中心,因此该区域的少数载流子密度变小导致荧光效应减弱,在图像上表现出来就成为暗色的点、线,或一定的区域,而在电池片内复合较少的区域则表现为比较亮的区域。因此,通过观察光致发光成像能够判断Si片或电池片是否存在缺点。

太阳能电池有哪些缺点呢?

黑心片:EL照片反射的黑心膜形成的主要原因是该区域没有发出1150红外光,导致黑心片在红外照片中反射。这种黑色芯板是由于在中心部分的高电阻率而形成的。它与硅衬底的少数载流子浓度有关。

黑色电影:在生产过程中,由于反复强调缩短的定向凝固时间晶体,潜热释放融化和温度场温度梯度不匹配,晶体生长速率加快,过度的热应力引起的内部位错硅片。

短路黑片:由单根线焊接元件引起的短路;元器件层压前电池电池效率低下所形成的短路黑膜;边缘明亮的黑色薄膜称为非短路黑色薄膜。主要是由于n型芯片在硅片的错误使用中,导致PN结,短路电池无法提供外部电源,输出功率和IV测试曲线也降低。导致整个元件功率和填充系数受到影响。

电池栅极:电池栅极是由于太阳能电池丝网印刷过程中参数设置不当或丝网印刷质量不合格造成的。轻微的栅极断口对元件来说不是很重要,但如果栅极严重,影响单片电池的电流会影响整个元件的电气性能。 欧普泰PL、EL检测设备,电池片、电池串、组件检测准确率与速度均达到或超出国内外同类设备水平,**行业。

机器视觉技术与人类通过眼睛获取信息的方式是一致的,光学图像的采集就好比是机器在用“眼睛”获取信息,检测算法就是机器在用“大脑”思考的过程。而光学图像定位方法又分为灰度定位和几何定位,基于灰度定位的算法是通过分析模板图像的灰度值与待测物体图像的灰度值的相关性大小来判断物体的位置。由于该算法与图像的每一个像素点的灰度值关系密切,所以它对光照的亮度变化非常敏感。而在实际生产当中工件对光的吸收、反射不可能完全一致,从而会影响定位的准确率和通过率,因此采用几何定位方式。欧普泰PL、EL检测设备,电池片、电池串、组件检测准确性与速率均达到或超出国内外同类设备水平,领跑行业。天津检测仪器价格

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太阳能EL缺点探测器检测太阳能电池模块的裂纹、碎片、焊点、断闸和不同转换效率的单电池的异常。太阳能电池片有单晶硅片和多晶硅片,由于生产过程中制造条件的随机性,在生产过程中存在一些缺点。EL探伤仪采用红外测试方法对电池组件进行测试,实现EL成像模式,检测电池芯片组件内部是否存在电池破裂、开裂、黑芯片、严重断闸、焊料断裂、焊破、焊破等缺点。然后进入下一个过程,因为电源发出的光与PN结中的离子浓度有很大的关系,所以根据EL计算机反射的图像可以判断硅片内部是否异常。从而保证了太阳能电池组件的质量。天津组件检测仪器厂家

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