天津检测仪厂家

上海欧普泰科技创业股份有限公司，作为资本密集型产业，我国光伏产业的发展离不开资本的支持。随着光伏产业的发展对资本的需求量不断的增大。在发展初期，对资金的需要主要用于企业购买技术和设备从事光伏产品的生产、经营和销售。我国光伏产业进入快速发展阶段以后，对资金的需求量更大，主要因为国外市场对我国光伏产品的需求增加，加快扩大我国光伏产业规模，无疑需要更多的资金支持。但是快速发展带来的无序竞争，使我国光伏产品产能过剩，光伏产品的价格急剧下降，终遭遇“双反”调查，严重打击了我国太阳能光伏产业市场，使其陷入了前所未有的困境，国内光伏企业大量倒闭，企业只有通过调整发展战略才能从“双反”的阴影中走出来，此时，对资金的需求更进一步加大。我国光伏产业从发展初期、快速发展期到瓶颈期对资金的需求是逐渐递增的。

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上海欧普泰科技创业股份有限公司，在太阳能电池片生产中，EL检测仪可以应用于太阳能电池片分机来识别机器视觉系统不容易识别的内部缺点，如黑心、黑斑、断栅、隐裂、碎片等缺点。在电池片、硅片的分选中，普通的缺点、颜色可通过机器视觉系统进行识别判断，但对于一些内部缺点系统不易识别或容易漏检，这样就导致分选设备误判或漏判分选效率不高。目前的EL检测仪技术可实现电池片正、反缺点、颜色、内部缺点进行识别判断分选，检测速度达到国际同类水平，检测效率大幅提高。山东检测系统欧普泰AI-EL一人多机系统，人工智能检测缺点，节约成本，提高识别准确率，减低返修率，欢迎致电我司。

发光成像方法为太阳电池缺点检测提供了一种非常好的解决方案，这种检测技术使用方便，类似的二维化面检测。本文讨论的是光致发光技术在检测晶体Si太阳电池上的应用。光致发光(photoluminescence，PL)检测过程大致包括激光被样品吸收、能量传递、光发射及CCD成像四个阶段。通常利用激光作为激发光源，提供一定能量的光子，Si片中处于基态的电子在吸收这些光子后而进入激发态，处于激发态的电子属于亚稳态，在短时间内会回到基态，并发出以1150 nm的红外光为波峰的荧光。利用冷却的照相机镜头进行感光，将图像通过计算机显示出来。发光的强度与本位置的非平衡少数载流子的密度成正比，而缺点处会成为少数载流子的强复合中心，因此该区域的少数载流子密度变小导致荧光效应减弱，在图像上表现出来就成为暗色的点、线，或一定的区域，而在电池片内复合较少的区域则表现为比较亮的区域。因此，通过观察光致发光成像能够判断Si片或电池片是否存在缺点。

上海欧普泰科技创业股份有限公司，PL(光致发光)和红外技术综合分析，并具有3D模块采用铟镓砷传感器，而非一般厂家采用固定值的模拟摄像管具有硬件图像校正和计算机参数控制的功能，其灵敏度好，检测结果与实际情况一致性佳软件系统为不同产品表面情况及尺寸提供设置菜单，无需硬件上进行设置，方便应用不仅可以探测标准尺寸的硅块与硅片，而且可以检测无规则尺寸的样品可直接对单晶，多晶，非晶，化合物等各类型光伏电池进行直接检测可应用到电池生产中的各工艺检测，对硅块、硅片、绒面、扩散、刻蚀、PECVD、电极印刷、烧结、电池片等各工艺进行检测分析红外高像素相机，辨；得到更多波段的信息，更真实线形光源，扫描方式收集图像，避免常规照相的光学变形可轻易获得单位面积上的高强度并可轻易达7suns亮度，比常规1sun具有更高的敏感度，更经济更安全无需对线光源遮光，避免了对比度下降，信号更真实。欧普泰PL、EL检测设备，电池片、电池串、组件检测准确率与速率均达到或超过国内外同类设备水平，领跑行业。

隐裂、热斑、PID效应，是影响晶硅光伏组件性能的三个重要因素。隐裂是晶体硅光伏组件的一种较为常见的缺点，通俗的讲，就是一些肉眼不可见的细微破裂(micro-crack)。晶硅组件由于其自身晶体结构的特性，十分容易发生破裂。

在晶体硅组件生产的工艺流程中，许多环节都有可能造成电池片隐裂。隐裂产生的根本原因，可归纳为硅片上产生了机械应力或热应力。现在为了降低成本，晶硅电池片向越来越薄的方向发展，降低了电池片防止机械破坏的能力，更容易产生隐裂。 欧普泰AI-EL一人多机系统，人工智能检测缺点，节省成本，提高辨识准确率，减低返修率，欢迎垂询我司。天津AI检测设备价格

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黑斑片

黑斑片一般是由于硅料受到其他杂质污染所致。通常少数载流子的寿命和污染杂质含量及位错密度有关。黑斑中心区域位错密度>107个/cm2，黑斑边缘区域位错密度>106个/cm2均为标准要求的1000～10000倍这是相当大的位错密度。

缺点：短路黑片

缺点：非短路黑片

电池片黑片有两种，全黑的我们称之为短路黑片，通常是由于焊接造成的短路或者混入了低效电池片造成的。而边缘发亮的黑片我们称之为非短路黑片，这种电池片大多产生于单面扩散工艺或是湿法刻蚀工艺，单面扩散放反导致在背面镀膜印刷，造成是PN结反，也就是我们通常所说的N型片，这种电池片会造成IV测试曲线呈现台阶，整个组件功率和填充因子都会受到较大影响。 天津检测仪厂家

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