天津人工智能检测仪器

时间:2020年10月24日 来源:

分享识别“隐裂”的方法

EL(Electroluminescence,电致发光)是一种太阳能电池或组件的内部缺点检测设备,是简单有效的检测隐裂的方法。利用晶体硅的电致发光原理,通过辨率的红外相机拍摄组件的近红外图像,获取并判定组件的缺点。具有灵敏度高、检测速度快、结果直观形象等优点。

形成“隐裂”的原因

外力:电池片在焊接、层压、装框或搬运、安装、施工等过程中会受外力,当参数设置不当、设备故障或操作不当时会造成隐裂。

高温:电池片在低温下没有经过预热,然后在短时间内突然受到高温后出现膨胀会造成隐裂现象,如焊接温度过高、层压温度等参数设置不合理。

原材料:原材料的缺点也是导致隐裂的主要因素之一。 上海欧普泰科技创业股份有限公司检测值得用户放心。天津人工智能检测仪器

电位诱发衰减效应是电池组件长期在高电压作用下,使玻璃、封装材料之间存在漏电流,大量电荷狙击在电池片表面,使得电池表面的钝化效果恶化,导致组件性能低于设计标准。PID现象严重时,会引起一块组件功率衰减50%以上,从而影响整个组串的功率输出。

系统设计原因:光伏电站的防雷接地是通过将方阵边缘的组件边框接地实现的,这就造成在单个组件和边框之间形成偏压,组件所处偏压越高则发生PID现象越严重。对于P型晶硅组件,通过有变压器的逆变器负极接地,消除组件边框相对于电池片的正向偏压会有效的预防PID现象的发生,但逆变器负极接地会增加相应的系统建设成本;


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光伏组件原因:高温、高湿的外界环境使得电池片和接地边框之间形成漏电流,封装材料、背板、玻璃和边框之间形成了漏电流通道。通过使用改变绝缘胶膜乙烯醋酸乙烯酯(EVA)是实现组件抗PID的方式之一,在使用不同EVA封装胶膜条件下,组件的抗PID性能会存在差异。

电池片原因:电池片方块电阻的均匀性、减反射层的厚度和折射率等对PID性能都有着不同的影响。上述引起PID现象的三方面中,由在光伏系统中的组件边框与组件内部的电势差而引起的组件PID现象被行业所公认。 检测,就选上海欧普泰科技创业股份有限公司,有需求可以来电咨询!北京检测系统

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