天津stil传感器精度

航空航天属于高精尖技术领域，技术对安全性要求极高，因此航空航天部件的制造生产中对产品工艺和质量的要求是极为苛刻的。这是司逖光谱共焦传感器在飞机多层玻璃厚度检测方面的运用:

飞机多层玻璃厚度测量

光谱共焦传感器信号灯

为了方便用户实时了解传感器的运行状态，光谱共焦传感器的面板上共有六组信号灯，分别从电源、USB连接、测量头连接、测量状态等四个方面呈现传感器的实际情况。电源、USB连接和测量头连接以LED信号指示灯显示，在传感器开启电源后，上述三个LED信号灯为绿色，表明传感器已可以准备正常工作。 马波斯测量科技为您提供专业的光谱共焦传感器，欢迎新老客户来电！天津stil传感器精度

应用：

玻璃外形轮廓测量CCSPrima+CL3-MG140

手机屏幕与金属外框的间隙检测 MPLS180+MicroView

3D玻璃内表面弧度的测量

大角度轮廓测量

玻璃表面瑕疵检测CL3-MG70+STILDUO

玻璃表面微小划伤检测 MC2 

精密制造行业精密制造产品，内部一般由很多细小复杂的零件组成。以代表性的手表来举例，其制造流程和工艺虽比不上汽车、飞机工业的复杂程度，但其内部**小小超过100多个细小复杂的零件组装在表盘内，稍微出现组装疏忽将会导致手表不能正常运，产品品质不能经得起考验。 吉林2D 测量传感器品牌马波斯测量科技为您提供专业的光谱共焦传感器，期待您的光临！

闪测仪测量更准确采用双倍率双侧远心光学镜头，具有较高的远心度，即使有段差情况下也能高精度正确的测量。倍率涵盖0.16X大视野/0.7X高精度。一键测量闪测仪是一种新型的影像测量技术，它和传统的二次元影像测量仪不同的是它不再需要光栅尺位移传感器作为精度标，也不要经过大焦距的镜头经过放大产品影像来保障测量精度。

多年来精密测量业里流行着这么一句话：影像测量仪是传统投影仪的替代产品，影像测量仪将取代传统投影仪。如今我们将再一次打破传统，闪测仪将取代影像测量仪和传统投影仪

什么是光谱共焦技术？

光谱共焦位移传感器提供比较好的技术以满足非接触尺寸测量**苛刻的要求。基于使用空间彩色编码的创新光学原理，光谱共焦传感器使用户能够以非凡的精确度对任何类型的材料进行测量。传感器适用于绝大多数行业：计量或研究实验室中的高精度仪器，工业生产线上的质量控制。用于工业环境中的设计，传感器的各系列，吸引集成器与测量检测机器轻松连接，这归功于为每台仪器提供的动态链接库（DLL）。

光谱共焦成像基于2个原则：l共焦成像l光轴的彩色编码。

共焦装置是一种光学装置，光学系统在物体的表面上产生点光源S的图像S’。反向散射光由相同的光学系统收集，该光学系统在***S’’处成像。***被置于光电探测器的前面，它过滤可以到达光电探测器的光线，因此它也被称为“空间滤波器”。共焦装置的特点是具有特殊的信噪比。按照CCI原理，光学系统是彩色光学头，光电探测器是一个光谱仪。 用点光谱或线光谱传感器测量晶圆上的翘曲/平面度 凸块测量CLMG/EVERESTK1/K2传感器系列可达360,000测点/秒。

ENITH控制器采用比较高质量标准制造，是一款坚固可靠的产品，可满足车间环境（如实验室）中**苛刻的应用，是工业环境中光谱共焦控制器的全新选择。ZENITH控制器的柔性测量，可以将被测产品造成损害的可能性降低到零。基于以太网通讯，ZENITH可以在非接触的情况下实现高精度的测量，而不会对被测产品造成任何损坏。

ZENITH框架紧凑，结构稳固，专为7天24小时全天候使用而设计。2ZENITH能够在各种类型的材料和物体表面进行超高分辨率的距离和厚度测量，包括各种反射性材料。3高频率采样是 ZENITH 与编码器（**多 5 个）结合用于外部测量同步的动态应用的理想选择之一。4ZENITH的控制器可兼容所有MARPOSS STIL光学笔：CL-MG、OP、ENDO和EVEREST，实现达纳米级精度的计量表现。 光谱共焦传感器，就选马波斯测量科技，用户的信赖之选，有想法可以来我司咨询！江西光谱共焦传感器应用案例

马波斯测量科技致力于提供专业的光谱共焦传感器，有需求可以来电咨询！天津stil传感器精度

生物医疗-人造膝关节

粗糙度测量符合ISO标准25178-602, 传感器适用任何反射表面

机械手表

特别用于于在线测量的传感器比较大样本斜率±45°；高达±88°的漫反射

微流体类

通过塑料或玻璃等透明层，使用亚微米级分辨率测量微流体每秒可测量360,000点

涡轮叶片

特别用于于在线测量的传感器比较大样本斜率±45°；高达±88°的漫反射

电池 点对点厚度测量

2个传感器和2个单通道控制器或1个双通道控制器点对点测量对于边缘区域可使用卡钳结构测量

非接触式测量，一体化设计，3D轮廓扫描，多功能数据处理适用于各种材料的精确测量；使用简单，拆装方便，扫描速度快，定位精度高重复精度±0.5~±1µm；稳定性高，抗干扰能力强

膜厚其他半导体用于膜厚的在线测量和质量控制

非接触测量，适用于易变形和不透明的材料小厚度测量5µm，适用于在线应用高灵敏度和高精度可提供卡钳结构或测量设备可结合马波斯Quick-SPC软件进行数据处理 天津stil传感器精度

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